利扬芯片引进中国大陆第一台百亿亿级别的超高性能测试系统——爱德万新一代V93000 EXA Scale，为高端中国“芯”提供完美解决方案。V93000是当前市场最主流的高端集成电路测试平台，而新一代V93000 EXA Scale是一款针对达到百亿亿（EXA=10的18次方=1百亿亿）级别性能的先进SoC芯片的测试系统；所有的EXA Scale板卡都采用了Advantest最新一代的测试处理器，每个芯片有8个内核，具有独特的功能，可以加快测试速度和简化测试执行。V93000 EXA Scale系统采用了Advantest的专利Xtreme Link™技术，这是一种专门为半导体自动测试设备（ATE）设计的通信网络。该技术可提供高速数据连接、嵌入式计算能力和板卡到板卡的即时通信；通过Pin Scale 5000数字板卡和XPS256电源板卡上的256通道，让密度增加了一倍，但同时又保持了原本V93000的外形尺寸。其搭载的新测试头CX，SX，LX，更小体积让维护变得更简易，能满足更高同测数的需求。而不同规模的测试头可扩展出不同的测试方案，包括可实现在一个测试系统上测试芯片的各种性能，如数字、射频、模拟和功率测试。

越来越多新技术的应用落地使得半导体的应用场景日趋复杂，对单颗芯片的集成度也带来了更高的要求。相应的，集成电路的制造及测试工艺也越发具有挑战性。爱德万测试是利扬芯片十分信赖的长期合作伙伴，其尖端的技术及优质的服务给予了我们强有力的支持，相信此次新机台的引入能够帮助我们有效应对现今集成电路飞速发展下，测试领域所面临的诸多挑战。